Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Książki - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12 lutego 2010
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
zł 453,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 29 paź - 6 lis

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

Również dostępne jako:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 12 lutego 2010
ISBN13 9783642065699
Wydawcy Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strony 420
Wymiary 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Język Niemiecki  
Redaktor Bhushan, Bharat
Redaktor Fuchs, Harald

Więcej od tego samego wydawcy