Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Książki - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21 lutego 2006
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

Cena
zł 615,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 3 - 11 gru
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

Również dostępne jako:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 21 lutego 2006
Oryginalna data wydania 2005
ISBN13 9783540262428
Wydawcy Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strony 420
Wymiary 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Język Niemiecki  
Redaktor Bhushan, Bharat
Redaktor Fuchs, Harald

Więcej od tego samego wydawcy