Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Książki - Springer London Ltd - 9781447160687 - 22 lutego 2014
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

Tomi Laurila

Cena
zł 747,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 3 - 15 paź

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

218 pages, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 22 lutego 2014
ISBN13 9781447160687
Wydawcy Springer London Ltd
Strony 218
Wymiary 155 × 235 × 15 mm   ·   317 g
Język English  

Zobacz wszystko od Tomi Laurila ( np. Hardcover Book i Paperback Book )