Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing - Mohammad Tehranipoor - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945136 - 23 listopada 2010
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Mohammad Tehranipoor
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Cena
zł 605,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 31 gru - 5 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.

422 pages, black & white illustrations

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 23 listopada 2010
ISBN13 9781441945136
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 408
Wymiary 155 × 235 × 21 mm   ·   589 g
Język Angielski  
Redaktor Tehranipoor, Mohammad

Więcej od Mohammad Tehranipoor

Pokaż wszystko

Zobacz wszystko od Mohammad Tehranipoor ( np. Hardcover Book i Paperback Book )