Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing - Mohammad Tehranipoor - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387747460 - 10 grudnia 2007
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Mohammad Tehranipoor
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing 2008 edition

Cena
zł 605,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 1 - 9 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.

424 pages, 1, black & white illustrations

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 10 grudnia 2007
ISBN13 9780387747460
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 408
Wymiary 155 × 235 × 23 mm   ·   811 g
Język Angielski  
Redaktor Tehranipoor, Mohammad

Więcej od Mohammad Tehranipoor

Pokaż wszystko

Zobacz wszystko od Mohammad Tehranipoor ( np. Hardcover Book i Paperback Book )