CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Jiann-Shiun Yuan - Książki - Springer Verlag, Singapore - 9789811008825 - 21 kwietnia 2016
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Jiann-Shiun Yuan
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 1st ed. 2016 edition

Cena
zł 212,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 7 - 15 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.

106 pages, 101 black & white illustrations, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 21 kwietnia 2016
ISBN13 9789811008825
Wydawcy Springer Verlag, Singapore
Strony 106
Wymiary 155 × 235 × 6 mm   ·   1,83 kg

Więcej od Jiann-Shiun Yuan

Pokaż wszystko

Zobacz wszystko od Jiann-Shiun Yuan ( np. Paperback Book i Book )