Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - - Książki - Springer, India, Private Ltd - 9788132234241 - 23 października 2016
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

Cena
zł 406,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 8 - 16 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

269 pages, 17 Tables, black and white; 67 Illustrations, color; 134 Illustrations, black and white;

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 23 października 2016
ISBN13 9788132234241
Wydawcy Springer, India, Private Ltd
Strony 269
Wymiary 150 × 220 × 10 mm   ·   493 g
Redaktor Mahapatra, Souvik