Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Książki - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093418 - 30 listopada 2010
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Cena
zł 451,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 8 - 16 paź

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

Również dostępne jako:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

446 pages, 25 black & white tables, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 30 listopada 2010
ISBN13 9783642093418
Wydawcy Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strony 387
Wymiary 155 × 235 × 23 mm   ·   674 g
Język Niemiecki  
Redaktor Bhushan, Bharat
Redaktor Fuchs, Harald
Redaktor Tomitori, Masahiko

Więcej od tego samego wydawcy