Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Książki - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540740827 - 11 stycznia 2008
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology 2008 edition

Cena
zł 610,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 5 - 13 lis
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

Również dostępne jako:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

447 pages, 189 black & white illustrations, 27 colour illustrations, 25 black & white tables

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 11 stycznia 2008
ISBN13 9783540740827
Wydawcy Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strony 387
Wymiary 165 × 243 × 21 mm   ·   725 g
Język Niemiecki  
Redaktor Bhushan, Bharat
Redaktor Fuchs, Harald
Redaktor Tomitori, Masahiko

Więcej od tego samego wydawcy