Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Książki - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516123 - 14 października 2021
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Behnam Ghavami
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Cena
zł 206,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 9 - 19 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 14 października 2021
ISBN13 9783030516123
Wydawcy Springer Nature Switzerland AG
Strony 114
Wymiary 150 × 220 × 10 mm   ·   209 g
Język Niemiecki  

Zobacz wszystko od Behnam Ghavami ( np. Hardcover Book i Paperback Book )