Cross-Layer Reliability of Computing Systems - Materials, Circuits and Devices - Giorgio Di Natale - Książki - Institution of Engineering and Technolog - 9781785617973 - 22 października 2020
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Cross-Layer Reliability of Computing Systems - Materials, Circuits and Devices

Cena
zł 518,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 12 - 21 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

This book presents state-of-the-art solutions for increasing the resilience of computing systems, both at single levels of abstraction and multi-layers. It is a valuable resource for researchers, postgraduate students and professional computer architects focusing on the dependability of computing systems.


328 pages

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 22 października 2020
ISBN13 9781785617973
Wydawcy Institution of Engineering and Technolog
Strony 328
Wymiary 156 × 234 × 20 mm   ·   703 g
Język Angielski  
Redaktor Bosio, Alberto (Full Professor, Ecole Centrale de Lyon - INL, France)
Redaktor Canal, Ramon (Associate Professor, Universitat Politecnica de Catalunya-Barcelona Tech (UPC), Facultat d'Informatica de Barcelona, Catalonia, Spain)
Redaktor Carlo, Stefano Di (Tenured Associate Professor, Politecnico di Torino, Italy)
Redaktor Gizopoulos, Dimitris (Professor, National and Kapodistrian University of Athens, Department of Informatics & Telecommunications, Greece)
Redaktor Natale, Giorgio Di (Director of Research, National Research Center of France, TIMA Laboratory, Grenoble, France)