Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection - Fred Stevie - Książki - Momentum Press - 9781606505885 - 15 września 2015
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Fred Stevie
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection

Cena
zł 243,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 31 gru - 8 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

150 pages

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 15 września 2015
ISBN13 9781606505885
Wydawcy Momentum Press
Strony 150
Wymiary 152 × 229 × 16 mm   ·   390 g
Język Angielski  

Zobacz wszystko od Fred Stevie ( np. Paperback Book )