Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation - Norbert Seifert - Książki - now publishers Inc - 9781601983947 - 27 listopada 2010
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Norbert Seifert
Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation

Otrzymaj e-mail, gdy przedmiot będzie dostępny
Czy masz profil? Zaloguj się
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.

136 pages

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 27 listopada 2010
ISBN13 9781601983947
Wydawcy now publishers Inc
Strony 136
Wymiary 157 × 234 × 8 mm   ·   199 g
Język Angielski  

Zobacz wszystko od Norbert Seifert ( np. Paperback Book )