
Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield 2013 edition
Mohamed Abu Rahma
Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield 2013 edition
Mohamed Abu Rahma
This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.
172 pages, 5 black & white tables, biography
Media | Książki Paperback Book (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem) |
Wydane | 15 października 2014 |
ISBN13 | 9781493902200 |
Wydawcy | Springer-Verlag New York Inc. |
Strony | 172 |
Wymiary | 155 × 235 × 10 mm · 272 g |
Język | English |
Zobacz wszystko od Mohamed Abu Rahma ( np. Hardcover Book i Paperback Book )