Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield - Mohamed Abu Rahma - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493902200 - 15 października 2014
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield 2013 edition

Mohamed Abu Rahma

Cena
zł 504,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 31 mar - 9 kwi
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield 2013 edition

This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.


172 pages, 5 black & white tables, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 15 października 2014
ISBN13 9781493902200
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 172
Wymiary 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
Język English