X-Ray Diffraction: A Practical Approach - C. Suryanarayana - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489901507 - 6 czerwca 2013
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

X-Ray Diffraction: A Practical Approach Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

C. Suryanarayana

Cena
zł 775,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 26 lis - 5 gru
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

X-Ray Diffraction: A Practical Approach Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

In this, the only book available to combine both theoretical and practical aspects of x-ray diffraction, the authors emphasize a "hands on" approach through experiments and examples based on actual laboratory data.
Part I presents the basics of x-ray diffraction and explains its use in obtaining structural and chemical information.
In Part II, eight experimental modules enable the students to gain an appreciation for what information can be obtained by x-ray diffraction and how to interpret it.
Examples from all classes of materials -- metals, ceramics, semiconductors, and polymers -- are included. Diffraction patterns and Bragg angles are provided for students without diffractometers. 192 illustrations.


286 pages, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 6 czerwca 2013
ISBN13 9781489901507
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 273
Wymiary 155 × 235 × 15 mm   ·   408 g
Język English  

Pokaż wszystko

Więcej od C. Suryanarayana