Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography
| Media | Książki Paperback Book (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem) |
| Wydane | 8 czerwca 2013 |
| ISBN13 | 9781475790290 |
| Wydawcy | Springer-Verlag New York Inc. |
| Strony | 454 |
| Wymiary | 152 × 229 × 24 mm · 630 g |
| Język | Angielski |
Więcej od Patrick Echlin
Pokaż wszystkoWięcej od tego samego wydawcy
Zobacz wszystko od Patrick Echlin