Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 8 czerwca 2013
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

Cena
zł 417,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 14 - 22 wrz
Otrzymuj powiadomienia o nowych wydawnictwach Patrick Echlin
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 8 czerwca 2013
ISBN13 9781475790290
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 454
Wymiary 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Język Angielski  

Więcej od Patrick Echlin

Pokaż wszystko

Więcej od tego samego wydawcy