Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 4 października 2012
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Cena
zł 424,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 14 - 22 paź

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 4 października 2012
ISBN13 9781461377986
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 167
Wymiary 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Język Angielski  
Redaktor Zorian, Yervant

Więcej od tego samego wydawcy