Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923066 - 23 listopada 2010
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Adam Foster
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
zł 620,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 23 wrz - 1 paź
Otrzymuj powiadomienia o nowych wydawnictwach Adam Foster

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.

282 pages, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 23 listopada 2010
ISBN13 9781441923066
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 282
Wymiary 155 × 235 × 16 mm   ·   417 g
Język Angielski  

Więcej od Adam Foster

Pokaż wszystko

Więcej od tego samego wydawcy

Zobacz wszystko od Adam Foster