Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
CTL for Test Information of Digital ICs 2002 edition
Rohit Kapur
Cena
NZD 206,85
Zamówione z odległego magazynu
Przewidywana dostawa 16 - 28 paź
Nasi klienci mówią:
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic
Również dostępne jako:
CTL for Test Information of Digital ICs 2002 edition
Rohit Kapur
From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability
173 pages, biography
| Media | Książki Hardcover Book (Książka z twardym grzbietem i okładką) |
| Wydane | 31 października 2002 |
| ISBN13 | 9781402072932 |
| Wydawcy | Springer-Verlag New York Inc. |
| Strony | 173 |
| Wymiary | 155 × 235 × 12 mm · 439 g |
| Język | English |
Zobacz wszystko od Rohit Kapur ( np. Hardcover Book i Paperback Book )