Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
Cena
zł 188,90
Zamówione z odległego magazynu
Przewidywana dostawa 27 lis - 11 gru
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia
Nasi klienci mówią:
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic
Również dostępne jako:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
194 pages, black & white illustrations
| Media | Książki Paperback Book (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem) |
| Wydane | 5 czerwca 2014 |
| ISBN13 | 9781107408326 |
| Wydawcy | Cambridge University Press |
| Strony | 194 |
| Wymiary | 152 × 229 × 10 mm · 412 g (Waga (szacunkowa)) |
| Język | Angielski |
| Redaktor | Butterbaugh, Jeffery W. |
| Redaktor | Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin) |
| Redaktor | Harris, H. Rusty (Texas A & M University) |
| Redaktor | Rachmady, Willy |
| Redaktor | Taylor, Bill |
