Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
MOS Interface Physics, Process and Characterization Shengkai Wang
MOS Interface Physics, Process and Characterization
Shengkai Wang
The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.
162 pages, 1 Tables, black and white; 97 Line drawings, black and white; 26 Halftones, black and whi
| Media | Książki Paperback Book (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem) |
| Wydane | 29 stycznia 2024 |
| ISBN13 | 9781032106281 |
| Wydawcy | Taylor & Francis Ltd |
| Strony | 162 |
| Wymiary | 150 × 220 × 10 mm · 453 g |
| Język | Angielski |
Więcej od tego samego wydawcy
Zobacz wszystko od Shengkai Wang ( np. Hardcover Book i Paperback Book )