Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Książki - Springer - 9780792390589 - 31 grudnia 1989
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition

Debashis Bhattacharya

Cena
zł 518,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 2 - 11 gru
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition

To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel.

160 pages, biography

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 31 grudnia 1989
ISBN13 9780792390589
Wydawcy Springer
Strony 160
Wymiary 155 × 235 × 11 mm   ·   426 g
Język English  
Pokaż wszystko

Więcej od Debashis Bhattacharya

Zobacz wszystko od Debashis Bhattacharya ( np. DVD , Hardcover Book , Paperback Book i CD )