Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Gianfranco Pacchioni

Cena

CA$ 344,91

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 3 - 12 gru

Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Media	Książki Paperback Book (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane	31 grudnia 2000
ISBN13	9780792366867
Wydawcy	Springer
Strony	624
Wymiary	153 × 234 × 20 mm · 875 g
Język	English
Redaktor	Griscom, David L.
Redaktor	Pacchioni, Gianfranco
Redaktor	Skuja, Linards

Pokaż wszystko