Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Książki - Cambridge University Press - 9780521017954 - 22 sierpnia 2005
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)

Cena
zł 291,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 12 - 21 lis

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.

460 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 22 sierpnia 2005
ISBN13 9780521017954
Wydawcy Cambridge University Press
Strony 460
Wymiary 170 × 244 × 25 mm   ·   731 g

Zobacz wszystko od Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) ( np. Paperback Book i Hardcover Book )