Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques - Quality and Reliability Engineering Series
Beck, Friedrich (Siemens AG, Munich, Germany)
Cena
A$ 386,39
Zamówione z odległego magazynu
Przewidywana dostawa 9 - 18 gru
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia
Nasi klienci mówią:
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic
Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques - Quality and Reliability Engineering Series
Beck, Friedrich (Siemens AG, Munich, Germany)
The construction and failure analysis of highly integrated semiconductor components has gained in significance with the explosive growth in the semiconductor industry. Once a subordinate laboratory task, semiconductor failure analysis has now become a discipline in its own right.
190 pages, index
| Media | Książki Hardcover Book (Książka z twardym grzbietem i okładką) |
| Wydane | 19 stycznia 1998 |
| ISBN13 | 9780471974017 |
| Wydawcy | John Wiley & Sons Inc |
| Strony | 190 |
| Wymiary | 237 × 159 × 16 mm · 396 g |
| Język | English |