Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques - Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) - Książki - John Wiley & Sons Inc - 9780471624639 - 2 grudnia 1987
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)

Cena
zł 1.144,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 9 - 18 gru
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.

368 pages, Ill.

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 2 grudnia 1987
ISBN13 9780471624639
Wydawcy John Wiley & Sons Inc
Strony 368
Wymiary 165 × 240 × 23 mm   ·   610 g

Zobacz wszystko od Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) ( np. Hardcover Book )