Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications Greg Haugstad
Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Greg Haugstad
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).
488 pages, Illustrations
| Media | Książki Hardcover Book (Książka z twardym grzbietem i okładką) |
| Wydane | 16 października 2012 |
| ISBN13 | 9780470638828 |
| Wydawcy | John Wiley & Sons Inc |
| Strony | 496 |
| Wymiary | 163 × 244 × 31 mm · 794 g |
| Język | Angielski |