Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
Applied Measurement with jMetrik 1. wydanie
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Cena
zł 981,90
Zamówione z odległego magazynu
Przewidywana dostawa 10 - 19 lut
Nasi klienci mówią:
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic
Również dostępne jako:
Applied Measurement with jMetrik 1. wydanie
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings
| Media | Książki Hardcover Book (Książka z twardym grzbietem i okładką) |
| Wydane | 27 czerwca 2014 |
| ISBN13 | 9780415531955 |
| Wydawcy | Taylor & Francis Ltd |
| Strony | 170 |
| Wymiary | 152 × 229 × 15 mm · 362 g |
| Język | English |