High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400921 - 27 sierpnia 2004
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004 edition

Ullrich Pietsch

Cena
zł 480,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 3 - 10 paź

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004 edition

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.

428 pages, 389 black & white illustrations, biography

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 27 sierpnia 2004
ISBN13 9780387400921
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 408
Wymiary 155 × 235 × 23 mm   ·   816 g
Język English  

Zobacz wszystko od Ullrich Pietsch ( np. Hardcover Book i Paperback Book )