Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design - The Morgan Kaufmann Series in Computer Architecture and Design - Lala, Parag K. (North Carolina Agricultural and Technical State University) - Książki - Elsevier Science & Technology - 9780124343702 - 26 czerwca 2000
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design - The Morgan Kaufmann Series in Computer Architecture and Design

Lala, Parag K. (North Carolina Agricultural and Technical State University)

Cena
zł 598,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 8 - 17 sty 2025
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design - The Morgan Kaufmann Series in Computer Architecture and Design

With VLSI chip transistors getting smaller and smaller, digital systems are more complex than before. This work deals with self-checking design techniques and emphasizes major techniques for hardware fault tolerance. It shows how to design self-checking sequential circuits. It also introduces reliability theory and importance of maintainability.


400 pages

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 26 czerwca 2000
ISBN13 9780124343702
Wydawcy Elsevier Science & Technology
Strony 400
Wymiary 187 × 235 × 18 mm   ·   612 g