Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices - Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired)) - Książki - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780120885749 - 1 grudnia 2014
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices 2. wydanie

Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired))

Cena
zł 778,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 4 - 16 paź

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices 2. wydanie

Offers coverage of some of the major topics related to the performance and failure of materials used in electronic devices and electronics packaging. This book explains the common mechanisms that lead to electronics materials failures, including dielectric breakdown, hot-electron effects and radiation damage.

758 pages, colour illustrations

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 1 grudnia 2014
ISBN13 9780120885749
Wydawcy Elsevier Science Publishing Co Inc
Strony 758
Wymiary 165 × 232 × 46 mm   ·   1,17 kg
Pokaż wszystko

Więcej od Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired))

Zobacz wszystko od Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired)) ( np. Hardcover Book i Paperback Book )