Wszystko o muzyce i filmach
Ogromny wybór K-popu
Darmowa wysyłka do 600 zł
4K UHD, Blu-Ray & DVD
7+ mln towarów
Toggle navigation
W Danii od 2005 roku
Søg
Kategorier
Home
Styczniowa wyprzedaż
Oferty
Winyle
CD
K-pop
Filmy
Książki
Merchandise
PLN
AUD
(Australian Dollars)
A$
BRL
(Brazilian real)
R$
CAD
(Canadian Dollars)
CA$
CHF
(Swiss francs)
SFr.
CNY
(Chinese yuan)
元
CZK
(Czech koruny)
Kč
DKK
(Danske kroner)
EUR
(Euro)
€
GBP
(Pounds Sterling)
£
HKD
(Hong Kong dollars)
HK$
HUF
(Hungarian forints)
Ft
ILS
(Israeli shekel)
₪
ISK
(Icelandic kronur)
Íkr
JPY
(Japanese yen)
¥
KRW
(South Korean won)
₩
MXN
(Mexican peso)
Mex$
NOK
(Norwegian kroner)
NOK
NZD
(New Zealand dollars)
NZ$
PLN
(Polish złotys)
zł
SEK
(Svenske kroner)
SEK
SGD
(Singapore dollars)
S$
TRY
(Turkish lira)
₺
USD
(Dollars)
$
ZAR
(South African rand)
R
Dansk
Deutsch
Deutsch (Switzerland)
English
English (Australia)
English (Singapore)
English (United Kingdom)
Español
Français
Nederlands
Norsk
Polski
Português
Português do Brasil
Suomi
Svenska
Vlaamse (Belgium)
日本語
Szukaj
Szukaj
Szukaj
Zaawansowane opcje wyszukiwania
Obsługa klienta
Obsługa klienta
Obsługa klienta
Boże Narodzenie
Ogólne FAQ
FAQ dotyczące winyli
Kontakt
Karta Podarunkowa
Zaloguj się
Szukaj
Wszystkie 2 wydania Way Kuo na Paperback Book i Hard... Book
Home
Styczniowa wyprzedaż
Oferty
Winyle
CD
K-pop
Filmy
Książki
Merchandise
Home
Home
Styczniowa wyprzedaż
Oferty
Winyle
CD
K-pop
Filmy
Książki
Gadżety
Szukaj
Hardcover Book
Paperback Book
Pokaż niedostępne przedmioty
Wydania przez
Way Kuo
Paperback Book
Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition
Reliability, Yield, and Stress B...
(2014)
Way Kuo
zł 605,90
Kup
Hardcover Book
1998 edition
Reliability, Yield, and Stress B...
(1998)
Way Kuo
zł 605,90
Kup
![Cover for Way Kuo · Reliability, Yield, and Stress Burn-in: a Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development (Paperback Book) [Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition] (2014)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/968/9781461375968.jpg?way-kuo-2014-reliability-yield-and-stress-burn-in-a-unified-approach-for-microelectronics-systems-manufacturing-software-development-paperback-book&class=scaled&v=1609312561)
