VLSI Design and Test for Systems Dependability - - Książki - Springer Verlag, Japan - 9784431565925 - 1 sierpnia 2018
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

VLSI Design and Test for Systems Dependability 1st ed. 2019 edition

Cena
zł 957,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 13 - 23 lis
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

Również dostępne jako:

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

800 pages, 20 Tables, color; 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800

Media Książki     Book
Wydane 1 sierpnia 2018
ISBN13 9784431565925
Wydawcy Springer Verlag, Japan
Strony 800
Wymiary 164 × 242 × 50 mm   ·   1,33 kg
Redaktor Asai, Shojiro

Więcej od tego samego wydawcy