Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Książki - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 1 listopada 2012
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Peter Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

Cena
zł 1.191,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 7 - 15 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Również dostępne jako:

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 1 listopada 2012
ISBN13 9783709172049
Wydawcy Springer Verlag GmbH
Strony 554
Wymiary 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Język Angielski  

Więcej od Peter Pichler

Pokaż wszystko

Zobacz wszystko od Peter Pichler ( np. Book , Hardcover Book i Paperback Book )