Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - - Książki - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 12 lutego 2010
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
zł 454,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 27 lis - 7 gru
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 12 lutego 2010
ISBN13 9783642065965
Wydawcy Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strony 378
Wymiary 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Język Niemiecki  
Redaktor Bhushan, Bharat
Redaktor Fuchs, Harald

Więcej od tego samego wydawcy