X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences - Shih-Lin Chang - Książki - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642059476 - 5 grudnia 2010
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Shih-Lin Chang
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition

Cena
zł 630,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 27 lis - 7 gru
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia
Otrzymuj powiadomienia o nowych wydawnictwach Shih-Lin Chang

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

Również dostępne jako:

X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.

436 pages, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 5 grudnia 2010
ISBN13 9783642059476
Wydawcy Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strony 436
Wymiary 155 × 235 × 23 mm   ·   621 g
Język Angielski  

Więcej od tego samego wydawcy

Zobacz wszystko od Shih-Lin Chang