Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Książki - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 22 lutego 2006
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

Cena
zł 588,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 6 - 14 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 22 lutego 2006
ISBN13 9783540269090
Wydawcy Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strony 378
Wymiary 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Język Niemiecki  
Redaktor Bhushan, Bharat
Redaktor Fuchs, Harald

Więcej od Bharat Bhushan

Pokaż wszystko