Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Bharat Bhushan 2006 edition
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
Bharat Bhushan
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Media | Książki Hardcover Book (Książka z twardym grzbietem i okładką) |
| Wydane | 22 lutego 2006 |
| ISBN13 | 9783540269090 |
| Wydawcy | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Strony | 378 |
| Wymiary | 166 × 243 × 21 mm · 716 g |
| Język | Niemiecki |
| Redaktor | Bhushan, Bharat |
| Redaktor | Fuchs, Harald |
Więcej od Bharat Bhushan
Pokaż wszystkoZobacz wszystko od Bharat Bhushan ( np. Hardcover Book , Paperback Book i Book )
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia