System Dependability and Analytics: Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives - Springer Series in Reliability Engineering - Arjun Athreya-Saurabh Bagchi-Long Wang-Karthik Pat - Książki - Springer International Publishing AG - 9783031020650 - 26 lipca 2023
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Arjun Athreya-Saurabh Bagchi-Long Wang-Karthik Pat
System Dependability and Analytics: Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives - Springer Series in Reliability Engineering 2023 edition

Cena
zł 738,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 29 wrz - 7 paź
Otrzymuj powiadomienia o nowych wydawnictwach Arjun Athreya-Saurabh Bagchi-Long Wang-Karthik Pat

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

This book comprises chapters authored by experts who are professors and researchers in internationally recognized universities and research institutions.

433 pages, 70 Illustrations, color; 38 Illustrations, black and white; XI, 433 p. 108 illus., 70 ill

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 26 lipca 2023
ISBN13 9783031020650
Wydawcy Springer International Publishing AG
Strony 433
Wymiary 156 × 234 × 27 mm   ·   664 g
Język Niemiecki  
Redaktor Athreya, Arjun
Redaktor Bagchi, Saurabh
Redaktor Di Martino, Catello
Redaktor Pattabiraman, Karthik
Redaktor Wang, Long

Więcej od tego samego wydawcy

Zobacz wszystko od Arjun Athreya-Saurabh Bagchi-Long Wang-Karthik Pat