Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - - Książki - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156114 - 24 sierpnia 2019
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics 1st ed. 2019 edition

Cena
zł 742,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 6 - 14 sie

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Media Książki     Book
Wydane 24 sierpnia 2019
ISBN13 9783030156114
Wydawcy Springer Nature Switzerland AG
Strony 408
Wymiary 150 × 220 × 20 mm   ·   805 g
Język Niemiecki  
Redaktor Celano, Umberto

Więcej od tego samego wydawcy