Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Książki - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 12 sierpnia 2016
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Cena
zł 650,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 7 - 16 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 12 sierpnia 2016
ISBN13 9781848219366
Wydawcy ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Strony 320
Wymiary 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g

Więcej od Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Pokaż wszystko

Zobacz wszystko od Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) ( np. Hardcover Book )