Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 4 czerwca 2013
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Cena
zł 671,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 12 - 20 lis
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia
Otrzymuj powiadomienia o nowych wydawnictwach John T L Thong

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

Również dostępne jako:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 4 czerwca 2013
ISBN13 9781489915245
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 462
Wymiary 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Język Angielski  
Redaktor Thong, John T.L.

Więcej od tego samego wydawcy

Zobacz wszystko od John T L Thong