Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30 stycznia 2012
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Otto Meyer
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Cena
zł 219,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 9 - 17 lis
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia
Otrzymuj powiadomienia o nowych wydawnictwach Otto Meyer

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.

508 pages, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 30 stycznia 2012
ISBN13 9781461588818
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 491
Wymiary 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Język Angielski  
Redaktor Meyer, Otto

Więcej od Otto Meyer

Pokaż wszystko

Więcej z tej serii

Więcej od tego samego wydawcy

Zobacz wszystko od Otto Meyer