Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - 27 grudnia 2011
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Cena
zł 411,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 2 - 10 lip

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 27 grudnia 2011
ISBN13 9781461395379
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 372
Wymiary 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
Język Angielski  
Redaktor Mureinik, Inez

Mere med samme udgiver

Zobacz wszystko od Lev S. Zevin ( np. Paperback Book )