Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 31 maja 2013
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

Joseph Goldstein

Cena
zł 558,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 28 lis - 9 gru
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.


709 pages, biography

Media Książki     Book
Wydane 31 maja 2013
ISBN13 9781461349693
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 689
Wymiary 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
Język English  

Pokaż wszystko

Więcej od Joseph Goldstein

Inni również kupili