Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Książki - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 29 października 2010
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Cena
zł 951,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 27 paź - 4 lis
Otrzymuj powiadomienia o nowych wydawnictwach Weilie Zhou

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Jeszcze nie oceniono

Również dostępne jako:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 29 października 2010
ISBN13 9781441922090
Wydawcy Springer-Verlag New York Inc.
Strony 522
Wymiary 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Język Angielski  
Redaktor Wang, Zhong Lin
Redaktor Zhou, Weilie

Więcej od tego samego wydawcy

Zobacz wszystko od Weilie Zhou