Powiedz znajomym o tym przedmiocie:
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1. wydanie
Pradeep Lall
Nasi klienci mówią:
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic
Również dostępne jako:
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1. wydanie
Pradeep Lall
This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.
336 pages, 30 black & white tables
| Media | Książki Hardcover Book (Książka z twardym grzbietem i okładką) |
| Wydane | 24 kwietnia 1997 |
| ISBN13 | 9780849394508 |
| Wydawcy | Taylor & Francis Inc |
| Strony | 328 |
| Wymiary | 184 × 264 × 23 mm · 794 g |
| Język | English |
Zobacz wszystko od Pradeep Lall ( np. Paperback Book i Hardcover Book )