Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

Yervant Zorian

Cena

zł 497,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 24 - 30 kwi

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów

Najwyższa ocena na Trustpilot

Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Media	Książki Hardcover Book (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane	31 maja 1997
ISBN13	9780792399209
Wydawcy	Kluwer Academic Publishers
Strony	167
Wymiary	203 × 254 × 11 mm · 535 g
Język	English
Redaktor	Zorian, Yervant

Zobacz wszystko od Yervant Zorian ( np. Hardcover Book )