Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models - Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.) - Książki - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780128007471 - 21 marca 2014
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.)
Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models

Cena
zł 293,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 13 - 22 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Helps you educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level.

108 pages, black & white illustrations

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 21 marca 2014
ISBN13 9780128007471
Wydawcy Elsevier Science Publishing Co Inc
Strony 108
Wymiary 154 × 228 × 6 mm   ·   154 g

Zobacz wszystko od Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.) ( np. Paperback Book )