Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Bharat Bhushan - Książki - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642072123 - 25 listopada 2010
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st Ed. Softcover of Orig. Ed. 2007 edition

Bharat Bhushan

Cena
zł 533,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 23 paź - 4 lis
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st Ed. Softcover of Orig. Ed. 2007 edition

The first volume in the series was released in January 2004 and the second to fourth volumes in early 2006. The field is now progressing so fast that there is a need for one volume every 12 to 18 months to capture latest developments. Volume VI presents 10 chapters on a variety of new and emerging techniques and refinements of SPM applications.


383 pages, 7 black & white tables, biography

Media Książki     Paperback Book   (Książka z miękką okładką i klejonym grzbietem)
Wydane 25 listopada 2010
ISBN13 9783642072123
Wydawcy Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strony 383
Wymiary 156 × 234 × 20 mm   ·   539 g
Redaktor Bhushan, Bharat
Redaktor Kawata, Satoshi

Pokaż wszystko

Więcej od Bharat Bhushan