Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Książki - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - 6 kwietnia 2021
W przypadku, gdy okładka i tytuł się nie zgadzają, tytuł jest poprawny

Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Cena
zł 651,90

Zamówione z odległego magazynu

Przewidywana dostawa 6 - 14 sty 2026
Świąteczne prezenty można zwracać do 31 stycznia

Nasi klienci mówią:

14-dniowa polityka zwrotów zgodnie z europejskim prawem ochrony konsumentów
Najwyższa ocena na Trustpilot
Dodaj do swojej listy życzeń iMusic

288 pages

Media Książki     Hardcover Book   (Książka z twardym grzbietem i okładką)
Wydane 6 kwietnia 2021
ISBN13 9781786306876
Wydawcy ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Strony 288
Wymiary 150 × 220 × 20 mm   ·   562 g
Język Angielski  

Więcej od Pierre-Richard Dahoo

Pokaż wszystko

Zobacz wszystko od Pierre-Richard Dahoo ( np. Hardcover Book )